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此次Chinaplas 2017 广州展，SIKORA 将着重展出适 用于管材、板材与塑料工业领域的创新型测量、控制、 识别、分析与剔除系统。特别为您介绍两款新仪器： CENTERWAVE 6000 - 用于测量大规格管道的测控系 统，和PLANOWAVE 6000 - 用于测量塑料板材厚度的 测控系统。这两款仪器都在德国杜塞尔多夫举办的 2016 K 展上首次亮相。此次展会，SIKORA 的亮点是 PURITY SCANNER 与 PURITY CONCEPT 系统。 PURITY SCANNER可对原材料颗粒进行完全的在线杂 质检测和自动剔除，而 PURITY CONCEPT 系统则适 用于颗粒、薄片以及薄膜 /胶带的离线检测与分 析。SIKORA “技术臻于完美”的宗旨，在其仪器中得以 充分体现。CENTERWAVE 6000: 应用毫米波技术来 测量大规格管道 随着CENTERWAVE 6000的推出， SIKO- RA 在测量大规格管道上占有重要一席。该 系统主要是应用创新的毫米波技术来测量 大规格管（可检测外径范围为 110 - 3200 mm）的直径、椭圆度、壁厚以及料 的下垂度。旋转测量头的采用使其能够在 管道圆周进行完整的壁厚测量。此外，该 设备还可选择多轴静态传感器系统进行管 道壁厚的测量。这两种系统都属于非接触 式测量方式，无需任何介质、不需要校准 并且不受管道的材料与温度影响。“CENTERWAVE 6000是 大规格管道持续在线测量的先锋，它为管线控制和质量控制 设立了新标准，将完全取代过去所使用的超声波技 术。”SIKORA中国总经理陈万彬说道。 PLANOWAVE 6000: 第二位毫米波技术的家庭成员 相同于 CENTERWAVE 6000， PLANOWAVE 的检测手段也 是基于先进的毫米波技术。PLANOWAVE 能够在挤出过程中 对塑料板材进行持续扫描其宽度的同时精确测量它的厚 度。“SIKORA 的PANOWAVE为板材生产的质量保证、工艺 优化以及提高生产效率提供了一个强大的系统。”陈万彬总经 理如是说道。 PURITY SCANNER: 塑料颗粒在线杂质检测和自动剔除系统 SIKORA于橡塑展的另一亮点则是PURITY SCANNER - 用于 塑料颗粒杂质的在线检测和自动筛除系统。该系统独创的 X 射线与光学检测相结合的技术，能够可靠地检测塑料颗粒表 面及内部杂质并自动剔除。而最新的 PURITY SCANNER ADVANCED 系统是 SIKORA 研发的另一个用于在线检测与筛除塑料颗粒杂质的设备。该设备拥有灵活的成像系统专门 针对于特殊应用领域的检测。根据要求， ADVANCED 型号 设备配备光学高速成像系统以及 X 射线、彩色成像系统和红 外成像系统。根据杂质的类型与应用领域的不同，系统最多 可配备 5 个不同的成像系统进行检测。PURITY SCANNER 与 PURITY SCANNER ADVANCED 的应用确保了生产过程 中生产材料的洁净度。 PURITY CONCEPT 系统：适用于颗粒、薄片以及薄膜/胶带 的检测与分析系统（离线） 针对材料数量较少和样品分析或材料进货检测的需求， SIKORA工程师们研发了 PURITY CONCEPT 系统。根据不 同的需求，该系统可以配备 X 射线、光学成像或红外线技术 对颗粒、薄片以及薄膜/胶带进行检测。例如，PURITY _CONCEPT 系统可用于分析由 PURITY SCANNER 检测与 筛除的杂质颗粒。“在线检测分析与离线检测分析的相互配_ 合，为材料的绝对洁净提供了保证，制造商还可通过筛除杂 质达到提升生产工艺的目的”，陈万彬总经理解释道。管材挤出线上的多元化测控技术 在管材挤出生产领域，SIKORA 不仅拥有创新的外径测量设 备 LASER 2000/6000 系列，还拥有 X 射线测量系统 X-RAY 6000 系列。通过精确测量产品的内/外径、多达三层的壁厚、 偏心以及椭圆度，SIKORA 设备在为制造商提供最佳品质保 证的同时，也为制造商节省了材料消耗，提高了生产效率。 2017中国国际橡塑展：展台号5.1 C39
